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一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法待交易

专利号：2013103459861已授权

申请日：1970-01-01发布日期：2022-03-01

转让价格：30000

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专利详情：

一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其测量系统包括投影仪、测量支架、摄像机、计算机、参考平面；投影仪和摄像机放在测量支架上，投影仪和摄像机为同一高度；投影仪、摄像机分别用导线连接计算机；待测物体放在参考平面上。本发明的优点是：（1）提出了基于条纹周期校正的五步相移法；（2）提出了基于条纹周期校正的时间相位展开方法；（3）操作方便、实用，实现复杂大物体高精度的三维测量。

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